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Initiation aux microscopies à champ proche : AFM (Atomic Force Microscope) et STM (Scanning Tunnelling Microscopy)

Résumé

Type de certification

  • Formation qualifiante

Thématique

  • Chimie

Composante(s)

Présentation

Code FC

  • C103

Objectifs


Cette formation, à la fois théorique et pratique, a pour but de comprendre les principes de fonctionnement de l’AFM et du STM. Elle a aussi vocation à sensibiliser à l’interprétation des mesures (images, courbes de force, courbes I(V)…) et aux limitations des instruments. Il s’agira donc d’aboutir à une utilisation rationnelle du matériel tout en sachant exploiter les données expérimentales et reconnaître les artefacts de mesure.

Contenu

Jour 1 matin :
Cours AFM :  principes fondamentaux de l’AFM
Jour 1 après-midi :
TP1 AFM : Comprendre le fonctionnement d’un CDROM
TP2 AFM : Cristaux de nanocristaux : introduction à la nanoindentation
Jour 2 matin :
Cours STM :  principes fondamentaux du STM
Visites de différents bâtis expérimentaux sous ultravide
Jour 2 après-midi :
TP1 STM : Imagerie à l’échelle atomique - HOPG (Highly oriented pyrolytic graphite)
TP2 STM : Tamis moléculaire - STM à l’interface liquide-solide

Niveau d'études visé

  • Inconnu

Effectif minimal

  • 3

Effectif maximal

  • 6

Public cible et prérequis

Public et prérequis

Chercheur, ingénieur et toute personne cherchant à acquérir des connaissances de base dans le caractérisation des matériaux en physique, chimie et biologie

Tarifs

Tarifs

1200€

Organisation/Calendrier

Organisation

2 jours

Calendrier

Nous consulter

Durée

  • 14 heures

Lieu(x)

  • Campus Jussieu

Contacts/Inscription

Inscription

Contact pédagogique

Imad Arfaoui - 01 44 27 26 96 - imad.arfaoui @ sorbonne-universite.fr

Inscriptions :

Roselyne FRIEDENBERG - 01 44 27 82 55 - roselyne.friedenberg_remy @ sorbonne-universite.fr

Audrey VIDAL - 01 44 27 82 82 - audrey.vidal @ sorbonne-universite.fr

Evaluation/Validation

Validation

  • Attestation de fin de formation